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全国电子显微学学术年会大会报告侧记2017-11-23

2017年10月18日上午,全国电子显微学学术年会在成都市星宸皇家金煦酒店正式召开,18日上午共进行10个大会特邀报告,中国科学院院士,浙江大学教授张泽致开幕辞并作报告。大会开幕式由韩晓东理事长主持,大会学术主席张泽院士在致开幕辞中对来自世界各地的参会者表示了欢迎,并对中国电子显微学会过去的发展表示肯定,对国家重大需求,人才培养,科技服务提出要求,并鼓励大家努力工作并在今后做出更优秀的成果,为国家的学科建设作出贡献。

 随后,张泽院士做了题为“In-situ HREM study of Nano-Metal & OxideCatalyst in Gas Environment”对学术报告。向大家介绍了金属/氧化物催化剂在环境气氛作用下的原位高分辨透射电镜的最新研究。针对外场环境下,固体表面发生对气体吸附、原子迁移、应力变化等结构变化对性能影响的精确解释。创新性地研究了将气氛等外场引入电子显微镜,在纳米甚至原子尺度分辨率下,研究苛刻环境下固体表面精细结构的演变及其对物理化学性能的影响,为高性能材料的设计与制备提供可靠的科学依据。

东京大学Yuichi Ikuhara教授的报告题目是:Mechanicaland chemical dynamics of interface phenomena in oxides。Ikuhara教授的报告主要分为两个部分。第一个部分以SrTiO3为观察材料利用原位纳米压痕仪研究了双晶界面处位错(刃形位错和螺型位错)与晶界(大角度晶界和小角度晶界)之间的交互作用;第二个部分利用球差校正的STEM研究LixFePO4发现在晶体裂纹的自愈过程中,中间相产生了重要的作用,他可以是两相的界面保持共格状态,从而使Li离子能够在脱锂过程中返回。报告直观精彩,令现场代表受益匪浅。

  Thermo Fisher Scientific/ FEITrisha Rice公司Dr.Marc Peeters的报告题目是:Ourview on muti-modal and multi-scale analysis。ThermoFisher Scientific/ FEI专注于健康、清洁和安全的理念。对客户关心的问题,工业上创新引导提出产品解决方案并提供应用支持。针对最近获得诺贝尔奖的冷冻电镜方面研究工作,提供单颗粒分析,针对样品缺陷,提供缺陷分析,并展示了其出版杂志。

中国科学院生物物理研究所章新政研究员的报告题目是:单颗粒算法的理论分辨率极限的突破。章新政教授利用理论模拟结合单颗粒重构算法对单颗粒法的理论分辨率极限进行了探索,确定了不同大小样品在不同加速电压电镜中的三维重构分辨率极限。提出了Block-based三维重构算法来弥补相位栅近似的破坏。成功解决了Ewald球效应,突破了相位栅近似引起的冷冻电镜单颗粒法的理论分辨率极限,这个算法为今后实现单颗粒算法对于蛋白质机器的原子分辨率结构解析打好了基础。

日本电子(捷欧路(北京)科贸有限公司) Masaki Mukai博士的报告题目是:Introduction and Application of Aberration-CorrectedElectron Microscope Equipped with a monochromator。他介绍了JOEL球差矫正电镜中Monochromator技术,并展示了JEM-ARM200F。用Ronchigram,HAADFImage在60 kV和200kV下,对电镜电子束的会聚角,分辨率和探针尺寸进行了表征。表明单色器对信息和能量分辨率有极大对提升。

德国于利希研究中心Rafal EDunin-Borkowski教授的报告题目是:Direct measurement of magnetization distributions in nanoscale materials in thetransmission electron microscope。RafalE Dunin-Borkowski 教授介绍了如何利用电子显微学技术获得材料显微结构和化学定量信息,以及如何获得纳米级别分辨率的磁化变化信息。研究中应用远轴电子全息技术记录电子出射波的相位变化,进而获得样品内部的磁学信息。这一技术目前已应用于磁性材料和二维材料的研究中。此外,结合模拟,远轴电子全息技术还可以用以确定未知样品的磁学信息。

天美(中国)科学仪器有限公司+日立高新技术公司Osamu Takagi博士的报告题目是:Newtechnologies of Hitachi FIB-SEM。Takagi 博士首先对FIB-SEM系统在电子显微学领域的应用现状做了概括,进而提出了应用中面临的三个主要问题:终点监测能力、样品损伤和屏风效应。针对以上问题,Takagi 博士提出了解决思路:通过将背散射电子和二次电子信号分离,再在切削加工中以不同模式进行观测,可以有效提高检测能力;通过使用低能离子源Ar和XeB可以有效减小损伤;通过控制离子束入射角度和反向切削的方法,可以减小屏风效应。日立NX2000,NX9000和最新推出的 ETHOS FIB-SEM实现了以上三种优化,其高分辨能力和出色的终点监测可以满足各个领域的需求。


北京林业大学林金星教授的报告题目是:植物细胞壁成分的无标记原位分析。细胞壁是存在于植物细胞外围的一层厚壁,是区别于动物细胞的主要特征之一。随着植物生长细胞壁成分会发生相应的变化。林教授在报告中介绍了包括分光光度分析技术、傅里叶红外光谱技术、受激拉曼光谱技术等细胞壁成分无标记原位检测技术并结合植物发育过程介绍了这些技术的优缺点。

 Gatan公司-中国科扬贸易公司曹潇潇博士的报告题目是:Gatan最新Rio系列CMOS相机。曹潇潇介绍了Gatan公司最新产品Rio系列CCD相机,该相机适用于30-200kV的电镜,biang且具有非常方便的样品漂移校正功能。该功能的实现得益于高读出速度下最高美妙20张4k x 4k图片的快速计算与叠加。得益于较高的动态范围与高像素尺寸,该CCD相机可以无需挡针直接在衍射模式成像,同时透射版和弱衍射斑也能观察到细致的细节,在低倍透射模式下可以兼顾较大的视野与高分辨。除此之外还介绍了回看缓存、颗粒追踪等新颖的实用功能。

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